年度	2011
全部作者	苏朝琴
论文名称	C.C. Su, C.S. Chang, H.W. Huang, D.S. Tu, C.L. Lee, and J. CH. Lin,“Dynamic Analog Testing via ATE Digital test Channels, ” Proc. 2004 IEEE Asian Test Symposium, pp. 308-312.
发表日期	2011-07-20