年度 | 2011 |
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全部作者 | 蘇朝琴 |
論文名稱 | C.C. Su, and K.C. Hwang, ``A Serial Scan Test Vector Compression Mthodology," Proc. IEEE Int'l Test Conference, Baltimore MD USA, Oct. 1993, pp.981-988. |
發表日期 | 2011-07-20 |
登入 陽明交通大學 電信工程研究所
年度 | 2011 |
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全部作者 | 蘇朝琴 |
論文名稱 | C.C. Su, and K.C. Hwang, ``A Serial Scan Test Vector Compression Mthodology," Proc. IEEE Int'l Test Conference, Baltimore MD USA, Oct. 1993, pp.981-988. |
發表日期 | 2011-07-20 |