年度	2011
全部作者	苏朝琴
论文名称	C.W. Lu, C.L. Lee, C.C. Su, and J.E. Chen, "Is IDDQ Testing Not Applicable for Deep Submicron VLSI in Year 2011?" Proc. 9th Asian Test Symposium, 2000, pp. 338-343.
发表日期	2011-07-20