年度 2011
全部作者 苏朝琴
论文名称 C.W. Lu, C.L. Lee, C.C. Su, and J.E. Chen, "Is IDDQ Testing Not Applicable for Deep
Submicron VLSI in Year 2011?" Proc. 9th Asian Test Symposium, 2000, pp. 338-343.
发表日期 2011-07-20