年度 2011
全部作者 蘇朝琴
論文名稱 C.W. Lu, C.L. Lee, C.C. Su, and J.E. Chen, "Is IDDQ Testing Not Applicable for Deep
Submicron VLSI in Year 2011?" Proc. 9th Asian Test Symposium, 2000, pp. 338-343.
發表日期 2011-07-20