年度	2011
全部作者	蘇朝琴
論文名稱	K. SM. Li, C.L. Lee, C.C. Su, and J.E. Chen, “A Unified Approach to Detecting Crosstalk Faults of Interconnected in Deep Submicron VLSI,”Proc. 2004 IEEE Asian Test Symposium, pp. 145-150.
發表日期	2011-07-20