年度 | 2011 |
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全部作者 | 苏朝琴 |
论文名称 | Y.T. Chen and C.C. Su, “Analog Module Metrology Using MNABST-1 P1149.4 Test Chip,” Proc. IEEE Asian Test Symposium, 1998 378-382. |
发表日期 | 2011-07-20 |
登入 阳明交通大学 电信工程研究所
年度 | 2011 |
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全部作者 | 苏朝琴 |
论文名称 | Y.T. Chen and C.C. Su, “Analog Module Metrology Using MNABST-1 P1149.4 Test Chip,” Proc. IEEE Asian Test Symposium, 1998 378-382. |
发表日期 | 2011-07-20 |