年度	2011
全部作者	蘇朝琴
論文名稱	Y.T. Chen and C.C. Su, “Crosstalk Effect Removal for Analog Measurement in Analog Test Bus”, Proc. 2000 IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2000), Montreal, Canada, May 2000.
發表日期	2011-07-20