年度 2011
全部作者 苏朝琴
论文名称 Y.T. Chen and C.C. Su, “Parasitic Effect Removal for Analog Measurement in MNABST-1
P1149.4 Test Chip Environment,” Proc. 9th VLSI Design/CAD Symposium, Aug. 1998,
pp.181-184.
发表日期 2011-07-20