年度	2010
全部作者	陈科宏、Shao-Chang Huang、Ke-Horng Chen、Hsin-Ming Chen、Michael Ho、and Shih-Jye Shen
论文名称	ESD Avoiding Circuits for Solving OTP Memory Falsely Programmed Issues
期刊名称	IEEE CAS Magazine
卷数	Vol. 10
期数	Issue 2
起页	30
迄页	39
语言	英文