年度 2010
全部作者 陈科宏,Shao-Chang Huang, Ke-Horng Chen, Hsin-Ming Chen, Michael Ho, and Shih-Jye Shen
论文名称 ESD Avoiding Circuits for Solving OTP Memory Falsely Programmed Issues
期刊名称 IEEE CAS Magazine
卷数 Vol. 10
期数 Issue 2
页码 30-39
语言 英文