年度	2010
全部作者	陈科宏,Shao-Chang Huang, Ke-Horng Chen, Hsin-Ming Chen, Michael Ho, and Shih-Jye Shen
论文名称	ESD Avoiding Circuits for Solving OTP Memory Falsely Programmed Issues
期刊名称	IEEE CAS Magazine
卷数	Vol. 10
期数	Issue 2
页码	30-39
语言	英文