年度	2009
全部作者	李義明
論文名稱	Yiming Li and Chih-Hong Hwang, "Electrical Characteristic Fluctuations in 16nm Bulk-FinFET Devices" , Microelectronic Engineering, Vol. 84, No. 9-10, Sep.-Oct. 2007, pp. 2093-2096 (SCI期刊), 2007年09月
發表日期	2009-03-31